JEOL JSM 6700F

Elektronový rastrovací mikroskop JSM-6700F s ultravysokým rozlišením – nástroj pro sledování nanomateriálů a nanostruktur.

Je vhodný pro pozorování jemných struktur, jako jsou multivrstvé povlaky a nanočástice produkované nanotechnologiemi. Díky režimu velmi pomalých elektronů je vhodný i pro pozorování nevodivých vzorků.

Hlavní přednosti:

  • Rozlišení 1 nm při primárním napětí 15 kV
  • Rozlišení 2,2 nm při primárním napětí 1 kV
  • Vysoké rozlišení v rozsahu primárních proudů 1 pA až 2 nA
  • Upraven pro detekci pomalých elektronů
  • Detekce prvkového složení vzorku

Sestava mikroskopu JEOL-6700F:

  • SE detektor v komoře i v tubusu
  • Scintilační BSE detektor
  • EDX detektor (Inca 350)
  • Režim pomalých elektronů

Fotografie mikroskopu

 

Ukázkové snímky z mikroskopu